關鍵詞 |
大同x射線測厚儀,天瑞儀器x熒光測厚儀性能可靠,天瑞儀器x射線測厚儀,紹興x熒光測厚儀 |
面向地區 |
全國 |
品牌 |
天瑞 |
X射線鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域；
技術指標
多鍍層分析，1～5層；
測試精度：0.001 μm；
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；
測量時間：10~30秒；
SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；
探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；
微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和測量薄鍍層及鍍層系統，因而應用廣泛;在電子和半導體產業里，測量觸點上薄金，鉑和鎳層厚度或痕量分析。在鐘表和珠寶行業或采礦精煉工業中，分析貴金屬合金組分。除了X射線熒光測厚儀還有元素分析儀，金鎳厚度測量儀，孔銅測厚儀，面銅測厚儀，涂鍍層測厚儀，臺式涂層鍍層測厚儀，銅箔測厚儀，綠油測厚儀，油墨測厚儀，各領域的測厚儀。
