光學多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現的采 用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理, 存儲諸功能于一體使傳統的光譜技術發生了根本的改變,使用OMA分析光譜,測試準確迅速,方便, 且靈敏度高,響應時間快,光譜分辨率高,測量結果可立即從顯示屏上

直讀光譜儀和ICP都屬于發射光譜分析儀器,區別在于他們的激發方式不同,ICP中文名字是電感耦合等離子體,是通過線圈磁場達到高溫使樣品的狀態呈等離子態然后進行測量的,而直讀光譜儀一般采用電火花,電弧或者輝光放電的方式把樣品打成蒸氣進行激發的,在效果上ICP要比直讀光譜儀器的檢出限小,精度高,但是在進樣系統上要求非常嚴格,沒有好的進樣系統就只能做溶液樣品。

直讀光譜儀主要由光源系統、光學系統、檢測系統和數據處理系統４部分組成，另外還包括氬氣系統、真空系統、恒溫系統、電氣控制系統４個輔助部分，如圖1-2所示。其中，光源系統為樣品提供激發時所需的能量；光學系統將激發后產生的不同波長的譜線色散開來；檢測系統進行光電轉換，并測量譜線的強度；數據處理系統則根據譜線強度與所測元素濃度的關系處理測量數據并控制儀器。光源系統、光學系統、檢測系統和數據處理系統這４部分構成了光譜儀的測量分析平臺，而氬氣系統、真空系統、恒溫系統在電氣控制系統的協調下構成了光譜儀的測量分析環境，儀器測量的準確性、可靠性和穩定性。

氬氣流量和壓力大小決定了氬氣對放電表面的沖擊能力，若沖擊能力過低，不足以將試樣激發過程中產生的氣體和形成的化合物沖掉，會導致污物在電極周圍聚集，抑制試樣的繼續激發，使放電不穩定，造成擴散放電，分析重復性差；若沖擊能力過大，易使火花產生跳動，同樣造成放電不穩定，影響檢測結果同時造成氬氣的浪費。

發射光譜分析用的激發電極要較好的分析精密度，電侵蝕要小，導電性要好，被分析的元素不應在激發電極材料中。如果用碳做電極分析鐵基材料，容易影響碳含量的準確度，因此在分析鐵基材料是一般采用銀或鎢。極間距的大小對分析精度是有很大影響，過大穩定性差，又難于激發，精度差。過小易激發，電極凝聚物易增加，導致間距變小，影響分析精度，所以電極間距不能過大也不能過小，一般分析間隙采用4~5mm。

故障排除方法
1、直讀光譜分析儀負高壓加不上去
負高壓加不上去主要原因是主要是儀器的真空度不夠造成的，檢查一下，看是否有漏氣的的現象出現，這時一般伴隨著真空度下降。儀器激發能量每天都不穩定這是一個比較復雜的問題，但是很多這種情況并不是儀器的本身問題，而是直讀光譜儀工作環境造成的，注意下實驗室的溫度和濕度，另外一種原因，也可能是地線造成的，看看地線是否符合廠家的要求。
2、直讀光譜分析儀快門總是漏氣
氣動本身就存在，只要經常拆下來吹吹灰，就可以了，不過要注意擰到什么位置（進真空室的那個），如果位置過上，會當光路；光纖位置沒有什么影響。樣本激發處沒有黑暈，呈白色狀。這是氬氣不純造成的。因為純度不夠無法達到要求。需要換上新的氬氣,沖洗并激發廢樣，再做樣品分析，實驗現象就會正常了。
3、樣品激發的不完全，C元素檢測含量過高
造成這種現象的原因是溫度的影響，要注意實驗儀器周圍的溫度變化，應將溫度調到25度左右，變化很大的溫度，會對實驗產生影響，所以實驗時，要保持恒溫。
4. 做描跡時，狹縫值總是跳來跳去
注意做掃描的方法，假如你要到350的位置，先旋轉到290左右，然后一次性旋至350，不能來回調，因為來回調節時會有螺絲間隙存在，造成狹縫誤差！
5、直讀光譜儀負高壓總是降低
可能是高壓板有問題，也可能是負高壓模塊壞了。
6、直讀光譜儀的氬氣速度很快
檢查一下前面板后面兩塊流量表和一塊壓力表是否在正常范圍內。也可能是氣路各接頭處有漏氣。在檢查檢查快門是否有漏氣。
7、鋼樣激發后的激發點處老是黑黑的一圈
檢查氬氣的純度，再看一看氬氣的火花臺出口，就是排放廢氣的管子，看看管是否堵塞，需不需要要清理。火花臺出口堵塞可能會導致排氣不暢通，使激發點處出現黑黑的一圈。如果黑圈顏色較深，還會不斷地擴大，成擴散狀也可能是試樣不平整或者放置試樣的時候半邊漏氣。還有如果激發的條件發生變化也可能使激發后點子的顏色異常。激發能量大時黑度可能較大。還會有一種可能的情況就是激發電的積碳現象，漏氣、發光臺磨損、式樣不平均都會造成這些現象。更換電極時也要注意，看是否合適，以免造成積碳現象出現。
8、光電直讀光譜儀提示為“全局通訊出錯，光源錯誤”
儀器重啟也沒用，檢查一下氬氣壓力可能是沒有氬氣了，導致氬氣壓力傳感器沒有及時反應。主要原因還是因為火花室積灰多，要及時清灰。所以說平時要做好儀器的日常維護。