關鍵詞 |
普通X射線熒光光譜儀款式,環保X射線熒光光譜儀總代,普通天瑞X射線熒光光譜儀總代,天瑞X射線熒光光譜儀 |
面向地區 |
全國 |
品牌 |
天瑞 |
X熒光光譜儀主要應用于鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測(RoHS、鹵素等)
測量對象狀態:粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環境溫度:15℃-30℃
環境濕度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
樣品腔體積:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
DX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等關注的元素進行分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
半導體行業從原材料到生產制造都需要應用到分析測試儀器。天瑞儀器作為國內化學分析行業的者,從事光譜儀、色譜儀、質譜儀和環境檢測儀器四大系列分析測試儀器的研發、生產、銷售與服務。公司產品豐富,可廣泛應用于芯片材料檢測與質量控制。此次,天瑞儀器展出產品呈現了其在半導體材料領域的技術應用,吸引了多方關注,為半導體產業鏈的安全提供了技術和產品的保障。