x射線熒光鍍層測(cè)厚儀可滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求，移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度，定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊。

x熒光鍍層測(cè)試儀
產(chǎn)品配置：開放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測(cè)器。信號(hào)檢測(cè)電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護(hù)傳感器，計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。

x射線測(cè)厚儀具有以下特點(diǎn)
快速：1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國(guó)際上的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。

無(wú)損：測(cè)試前后，樣品無(wú)任何形式的變化。
直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示元素含量。
測(cè)試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。

可靠性高：由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。
滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。

手持式XRF分析儀可對(duì)汽車中的涂覆層構(gòu)件的涂覆層厚度進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)試。且具有測(cè)試結(jié)果、穩(wěn)定性好、測(cè)試范圍廣的優(yōu)點(diǎn)。對(duì)汽車的金屬鍍件進(jìn)行測(cè)試，器件為鐵鍍銅鍍鎳鍍鉻樣品，由于樣品體積較大無(wú)法使用臺(tái)式機(jī)測(cè)試，使用天瑞手持式鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。

探測(cè)器和記數(shù)盒的配置有什么區(qū)別導(dǎo)致價(jià)格差異這么大？
答： 分辨率不同，記數(shù)盒對(duì)多鍍層能量相近元素?zé)o法分辯，計(jì)算厚度誤差大，甚至不能測(cè)試，無(wú)法滿足客戶需要。
你們儀器的測(cè)厚范圍？
答： 各種材料范圍不同，金屬一般在30微米左右，其中金8微米左右，鋁100微米左右。