直讀光譜儀，英文名為OES（Optical Emission Spectrometer），即原子發射光譜儀。二戰后，由于歐洲重建，市場對鋼鐵檢測有的需求，也促進了相關檢測儀器的發展。六十年代光電直讀光譜儀，隨著計算機技術的發展開始迅速發展，由于計算機技術的發展，電子技術的發展，電子計算機的小型化及微處理機的出現和普及，成本降低等原因、于上世紀的七十年代光譜儀器幾乎地采用計算機控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結果的數據處理和分析過程實現自動化控制。

光學多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現的采 用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理, 存儲諸功能于一體使傳統的光譜技術發生了根本的改變,使用OMA分析光譜,測試準確迅速,方便, 且靈敏度高,響應時間快,光譜分辨率高,測量結果可立即從顯示屏上

對樣品制樣的要求
1、分析樣品成致密的塊狀或較厚片狀固體，相對均勻，有代表性，不能有裂紋、夾雜、縮孔等物理缺陷。
2、每次檢測前都要重新制樣，試樣表面平整。當試樣放在電極激發臺上時, 不能有漏氣現象。
3、待測樣品表面不能沾污。
4、分析樣品與控制標樣操作一致。磨樣紋路粗細應該保持一致,不能有交又紋出現,磨樣時用力應該均勻,用力不要過大,用力太大會導致試樣磨樣過熱,直接導致試樣表面出現氧化的現象。
5、試樣厚度不能太薄。如果試樣的厚度比較薄, 其表面不平整, 也很很容易被燒, 并且激發時容易被擊穿, 這樣也會在一定程度上影響薄樣測量結果。

由于氧對200nm以下短波光譜有強烈的吸收，使得分析譜線的強度下降，特別是對譜線在紫外短波區的C、S、P等非金屬元素，導致其檢測結果偏低。氬氣不純易引起擴散放電，其激發點中心與外界沒有分界線呈白色或黑白色。因此，氬氣純度是影響檢測結果重要的因素。

發射光譜分析用的激發電極要較好的分析精密度，電侵蝕要小，導電性要好，被分析的元素不應在激發電極材料中。如果用碳做電極分析鐵基材料，容易影響碳含量的準確度，因此在分析鐵基材料是一般采用銀或鎢。極間距的大小對分析精度是有很大影響，過大穩定性差，又難于激發，精度差。過小易激發，電極凝聚物易增加，導致間距變小，影響分析精度，所以電極間距不能過大也不能過小，一般分析間隙采用4~5mm。

在檢測過程中由于溫度、濕度、供氣壓力、振動、透鏡污染、電極污染、電源波動等均會使校準曲線發生移動，造成檢測數值產生較大誤差，因此要對儀器進行定期或不定期標準化。標準化是借助已知樣品重新校準光譜儀，標準化有類型標準化（對單個合金進行標準化）、本類合金標準化（對特定合金組織進行標準化）和全部標準化（對整個基體進行標準化），標準化的正確與否是直接影響分析結果的關鍵。如果標準化選擇時機不合理，就容易產生數值偏差。同時還受工件穩定性與表面質量、電極、火花臺、石英窗、聚光透鏡等因素的影響。