關(guān)鍵詞 |
茂名x射線測厚儀,天瑞儀器X-ray測厚儀分析設(shè)備,天瑞儀器X射線鍍層測厚儀造型美觀,天瑞儀器X-ray測厚儀報價 |
面向地區(qū) |
全國 |
品牌 |
天瑞 |
X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,根據(jù)該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉(zhuǎn)換為電信號，經(jīng)過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號。
被授予 “*火炬計劃高新技術(shù)企業(yè)”，“江蘇省高新技術(shù)企業(yè)”，“江蘇省軟件企業(yè)”，“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”，“江蘇省規(guī)劃布局內(nèi)軟件企業(yè)”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術(shù)研究中心”等榮譽(yù)稱號。X熒光光譜儀系列產(chǎn)品被認(rèn)定為“*新產(chǎn)品”和“江蘇省高新技術(shù)產(chǎn)品”。產(chǎn)品品種，為環(huán)境保護(hù)與安全、工業(yè)測試與分析及其它領(lǐng)域提供*解決方案。
X射線鍍層測厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域；
技術(shù)指標(biāo)
多鍍層分析，1～5層；
測試精度：0.001 μm；
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；
測量時間：10~30秒；
SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；
探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；
微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；
