吉泰JCT測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
?測(cè)量范圍：(0～1250) μm（F1、N1測(cè)頭）F400測(cè)頭可以檢測(cè)微小工件，F(xiàn)10測(cè)頭可達(dá)10mm；
?分 辨 率：0.1μm (F1、N1測(cè)頭)；
?示值精度：±(2%H+1) μm; H為被測(cè)涂層厚度；
?顯示方法：128*64點(diǎn)陣液晶LCD；
?存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)5組（每組多100個(gè)測(cè)量值）測(cè)量數(shù)據(jù)；
?單 位 制：公制（μm）、英制（mil），可自由轉(zhuǎn)換；
?工作電壓：3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池）；
?持續(xù)工作時(shí)間：大于200小時(shí)（不開(kāi)背光時(shí)）；
?通訊接口：USB通訊接口，可與PC機(jī)連接、通訊；
?外形尺寸：115mm×67mm×31 mm；
?整機(jī)重量：340g。

產(chǎn)品特點(diǎn)
? 有多種測(cè)頭類(lèi)型可供選擇，通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
?測(cè)頭接觸部件鍍硬鉻或?yàn)榧t寶石，；
?自動(dòng)識(shí)別探頭 ；
?可設(shè)定上下限值，測(cè)量結(jié)果大于等于上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示；
?通過(guò)屏顯或蜂鳴聲對(duì)錯(cuò)誤進(jìn)行提示 ；
?設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值(MAX)、小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)；
?具有測(cè)頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；



?可選擇配備微機(jī)軟件，具有傳輸測(cè)量結(jié)果、測(cè)值存儲(chǔ)管理、測(cè)值統(tǒng)計(jì)分析、打印測(cè)值報(bào)告等豐富功能；
?通訊功能，可與PC連機(jī) 、通過(guò)電腦端軟件分析數(shù)據(jù)、實(shí)行打印報(bào)告等；
?采用ABS塑料外殼，小巧、便攜、堅(jiān)實(shí)，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾。

四、標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī) 1個(gè)
測(cè)頭 1個(gè)
校準(zhǔn)片 5片
校零基體 1個(gè)
電池 2節(jié)
說(shuō)明書(shū) 1本
保修卡 1個(gè)
儀器箱 1個(gè)

鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

測(cè)厚儀產(chǎn)品特性：
1、進(jìn)口傳感器，了測(cè)試精度；
2、嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制；
3、測(cè)量頭自動(dòng)升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差；
4、手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式，更方便客戶選擇；
5、配備微型打印機(jī)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果；
6、打印值、小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果，方便用戶分析數(shù)據(jù)；
7、儀器自動(dòng)保存多100組測(cè)試結(jié)果，隨時(shí)查看并打印；
8、標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備；
9、測(cè)厚儀配備自動(dòng)進(jìn)樣器，可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，人為誤差小；
10、技術(shù)化的軟件提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析，準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶；
11、配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。

鍍層測(cè)厚儀的日常維護(hù)方法：
1、檢修或者維修時(shí)注意關(guān)閉電源和電腦：當(dāng)我們的鍍層測(cè)厚儀在線上檢修或者暫時(shí)不用于生產(chǎn)任務(wù)時(shí)，我們就要及時(shí)關(guān)閉測(cè)厚儀的掃描電源以及電腦，讓其得到足夠的冷卻休整，在下一次開(kāi)啟時(shí)提個(gè)小時(shí)為鍍層測(cè)厚儀通上電和打開(kāi)電腦，開(kāi)啟后能夠正常的維持設(shè)備的運(yùn)行；
2、檢查好水冷卻機(jī)的狀態(tài)：為了防止設(shè)備運(yùn)行過(guò)熱我們?cè)谑褂缅儗訙y(cè)厚儀時(shí)一定要注意好水冷卻機(jī)內(nèi)的溫度要保持在30度左右，每個(gè)月我們都需要給水冷卻機(jī)進(jìn)行換水，防止產(chǎn)生水體過(guò)于污濁產(chǎn)生沉淀物阻礙我們?cè)O(shè)備的使用；
3、定期進(jìn)行潤(rùn)滑油的更換：要想我們技術(shù)化的鍍層測(cè)厚儀能夠正常持續(xù)的保持運(yùn)轉(zhuǎn)就得要定期的給掃描架的軸承進(jìn)行潤(rùn)滑油的更換，這樣技能提高我們?cè)O(shè)備的運(yùn)行效率又能減少鍍層測(cè)厚儀掃描架在使用時(shí)的磨損；
4、運(yùn)行過(guò)程重要注意檢查工作：即便我們擁有了品質(zhì)好的鍍層測(cè)厚儀也不能在運(yùn)行的過(guò)程中馬虎大意，一定要做好運(yùn)行過(guò)程中的檢查工作，查看掃描架是否有不正常的震動(dòng)或者是反常的聲音等。

金屬測(cè)厚儀使用注意事項(xiàng)
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量，如金屬類(lèi)、塑料類(lèi)、陶瓷類(lèi)、玻璃類(lèi)。可以對(duì)各種板材和加工零件作測(cè)量，另一重要方面是可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、、航各個(gè)領(lǐng)域。
1）工件表面粗糙度過(guò)大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無(wú)法接收到回波。對(duì)于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過(guò)砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理，降低粗糙度，同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬，使探頭與被檢物通過(guò)耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。
（2）工件曲率半徑太小，尤其是小徑管測(cè)厚時(shí)，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸，聲強(qiáng)透射率低（耦合不好）。可選用小管徑探頭（6mm）,能較的測(cè)量管道等曲面材料。
（3）檢測(cè)面與底面不平行，聲波遇到底面產(chǎn)生散射，探頭無(wú)法接受到底波。
（4）鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，超聲波在其中穿過(guò)時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減，被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒(méi)，造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶探頭（2.5MHz）。
（5）探頭接觸面有一定磨損。常用測(cè)厚探頭表面為丙烯樹(shù)脂，長(zhǎng)期使用會(huì)使其表面粗糙度增加，導(dǎo)致靈敏度下降，從而造成顯示不正確。可選用500#砂紙打磨，使其平滑并平行度。如仍不穩(wěn)定，則考慮更換探頭。
（6）被測(cè)物背面有大量腐蝕坑。由于被測(cè)物另一面有銹斑、腐蝕凹坑，造成聲波衰減，導(dǎo)致讀數(shù)無(wú)規(guī)則變化，在極端情況下甚至無(wú)讀數(shù)。
（7）被測(cè)物體（如管道）內(nèi)有沉積物，當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí)，測(cè)厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。
（8）當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷（如夾雜、夾層等）時(shí)，顯示值約為公稱厚度的70%，此時(shí)可用超聲波探傷儀或者帶波形顯示的測(cè)厚儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測(cè)。