分析誤差3%鍍層范圍0.005~50微米元素范圍從硫到鈾分析時間30秒

X射線鍍層測厚儀是一種用于測量材料表面涂層厚度的儀器。工作原理是利用X射線穿透材料，通過測量X射線的透射率來確定涂層的厚度。這種儀器通常用于工業生產中的表面涂層質量控制和監測，可以幫助企業確保產品符合規定的涂層厚度要求，提高產品的質量和生產效率。

隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。

天瑞儀器是一家生產測量儀器的公司，其中熒光鍍層測厚儀是其一款產品。

熒光鍍層測厚儀是一種用來測量材料表面上的熒光涂層厚度的儀器。使用熒光測厚儀可以快速、準確地測量出涂層的厚度，以確保產品質量符合標準要求。

天瑞儀器的熒光鍍層測厚儀具有、高穩定性、易操作等優點，廣泛應用于電子、汽車、化工、航空航天等領域。

想要了解更多關于天瑞儀器熒光鍍層測厚儀的信息，可以訪問其網站或聯系他們的客服人員。

天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行檢測,幫助企業準確核算成本及質量管控。可廣泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域。

多功能自動微區X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統、雙激光定位和保護系統,可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。

應用領域
分析超薄鍍層,如鍍層≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等鍍層;
測量超小樣品,直徑≤0.1mm
印刷線路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及電鍍液分析
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層