按照中國國家標(biāo)準(zhǔn)指導(dǎo)性技術(shù)檔GB/Z 20288-2006《電子電器產(chǎn)品中有害物質(zhì)檢測樣品拆分通用要求》中規(guī)定：表面處理層應(yīng)盡量與本體分離（鍍層），對于確定無法分離的鍍層，可對表面處理層進(jìn)行初篩（使用X射線熒光光譜儀（XRF）手段），篩選合格則不用拆分；篩選不合格，可使用非機(jī)械方法分離（如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學(xué)溶劑溶劑提取額）。

X熒光鍍層測厚儀是一種利用X射線熒光原理測量材料表面鍍層厚度的儀器。其原理如下：

1. X射線照射：儀器通過產(chǎn)生X射線，將其照射到待測鍍層表面。

2. 熒光發(fā)射：X射線照射到鍍層表面后，會激發(fā)鍍層中原子的電子躍遷，使其發(fā)生熒光發(fā)射。不同原子的熒光發(fā)射能譜是不同的，可以通過檢測熒光發(fā)射的能譜來確定鍍層中不同元素的含量。

3. 測量：根據(jù)鍍層中不同元素的熒光發(fā)射能譜及其強度，可以計算出鍍層的厚度。

通過這種原理，X熒光鍍層測厚儀可以快速、準(zhǔn)確地測量各種類型的鍍層厚度，是一種常用的表面分析儀器。

化鎳層厚分析儀是一種用于測量鎳層或鎳合金涂層厚度的儀器。這種儀器通常使用非破壞性的測試方法，例如X射線熒光分析或磁性測量技術(shù)，來準(zhǔn)確測量鎳層的厚度。這種儀器通常用于工業(yè)領(lǐng)域中涂層質(zhì)量控制、材料疲勞分析、腐蝕破壞分析等方面的應(yīng)用。通過化鎳層厚分析儀，用戶可以快速、準(zhǔn)確地確定鎳層的厚度，從而確保涂層的性能符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)。