標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

X射線測厚儀是一種用于測量材料厚度的儀器，主要功能包括以下幾點：

1. 非破壞性測試：X射線測厚儀可以通過X射線的方式快速、準確地測量材料的厚度，而不需要對材料進行破壞性測試。

2. 測量：X射線測厚儀可以實現的測量，可以檢測到微小的厚度變化，精度通常可以達到幾微米。

3. 大范圍測量：X射線測厚儀可以應用于各種材料的厚度測量，包括金屬、塑料、涂層等材料，可以實現在不同厚度范圍內的準確測量。

4. 自動化功能：一些X射線測厚儀具有自動化功能，可以實現自動校準、數據處理、報告生成等功能，提高測量效率和準確性。

5. 界面友好：X射線測厚儀通常配備有直觀、易操作的用戶界面，操作簡單方便，可以快速上手使用。

X熒光光譜膜厚測試儀是一種用于測量薄膜或涂層厚度的儀器。它通過分析材料上的熒光光譜來確定薄膜或涂層的厚度，從而提供了非破壞性且的厚度測量方法。

這種測試儀通常使用X射線或其他類型的輻射來激發樣品表面的熒光。通過測量不同波長下的熒光強度，可以確定薄膜或涂層的厚度。這種技術適用于各種材料，包括金屬、聚合物、涂料等。

X熒光光譜膜厚測試儀具有快速、、非接觸性和高靈敏度的特點，廣泛應用于制造業、材料研究、化工等領域。它可以幫助用戶監測產品質量、優化生產工藝，并提高生產效率。