天瑞XRF檢測儀EDX1800BROHS檢測設備
天瑞XRF檢測儀EDX1800BROHS檢測設備
產品別名 |
天瑞光譜儀 |
面向地區 |
全國 |
x熒光光譜儀主要特點
1.檢測對象:液體/固體/粉末-固體樣品:點射配件-液體樣品:樣品池配件,適用于8mm瓶,NMR管和MP管
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式:-重量輕-遠程控制-藍牙無線數據傳輸(或USB)-電池可持續運作5小時-數據庫可無限擴充
4.全球小的光譜
5.120mW激發光源,功率可變
6.熒光成像可選
7.達到限衍射的成像和光譜
8.數據庫可無限擴展
作為一種比較成熟的成分分析手段,X熒光光譜儀分析在冶金、地質、環境、化工、材料等領域中應用非常廣泛。X熒光光譜儀分析的對象主要是塊狀固體、粉末、液體三種,其中,固體粉末是分析得多的一種。因為很多試樣如水泥、煤、灰塵等本身就是粉末,對于形狀不規則的塊狀固體,如各種礦石,由于直接分析技術目前還不成熟,往往也粉碎成粉末。液體試樣可放入液體樣品杯中分析,但由于不能抽真空等原因,有時將液體轉變為固體,一些預分離、富集的結果也常是粉末,因此,粉末試樣的制樣技術是X熒光光譜儀分析中的重要一部分。
X熒光光譜儀粉末樣品誤差主要來源:
(1) 粒度效應 粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強度越高,輕元素尤甚。原子序數越小,對粒度越敏感;同一元素粒度越小,制樣穩定性越好。一般要求粒度小于200 目。
(2) 偏析 偏析是指組分元素在樣品中分布的差異。偏析有兩種:粒間偏析:粉末顆粒A 和B 之間混合不均勻;元素偏析:元素分布對粒度分布的非勻質性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情況下仍不能解決,可用其它制樣手段,如熔融,溶解等。
(3)礦物效應 由于礦物的化學結構或微觀晶體形態不同,含量相同的同一元素在不同的礦物中,它們的熒光強度會有很大的差異。所謂的礦物效應不單是針對礦物,在粉末樣品的X 熒光光譜儀分析中有著更廣泛的含義。

江蘇天瑞儀器股份有限公司
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