無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。

鍍層分析儀是一種用于分析材料表面涂層的設備，主要用于檢測薄膜、涂層和鍍層的厚度、成分、結構和性能。它能夠通過不同的技術，如X射線衍射、電子能譜分析、掃描電鏡等，來對鍍層進行分析，從而確定其質量和特性。

鍍層分析儀通常用于各種行業，如電子、光學、材料、化工等，在質量控制和研發過程中起著重要作用。它能夠幫助用戶了解材料表面的性能，為產品的設計和生產提供重要參考依據。同時，通過對鍍層的分析，還可以幫助用戶解決涂層質量問題，提高生產效率和產品質量。

總的來說，鍍層分析儀是一種重要的分析設備，能夠對各種涂層進行深入分析，為產品生產提供支持和。

是全自動的儀器，用于測量各種金屬和非金屬基體上的鍍層厚度。它采用X射線熒光光譜分析技術，通過分析樣品表面反射的X射線熒光光譜，來確定鍍層的成分和厚度。這種測厚儀廣泛應用于電子、汽車、航空航天、化工等領域，可以快速準確地測量各種鍍層的厚度，為質量控制和產品研發提供重要數據支持。