分析精度5%分析范圍0~50微米儀器重量90kg元素范圍從硫到鈾分析時間30S

鍍層測厚儀，是用于測量磁性基體上的非磁性涂層的厚度以及非磁性基體上的非導電涂層的厚度。
產品鍍層的厚度是企業需要控制的。市面上，常見的鍍層測厚儀量程范圍一般在0-2000μm。測量大厚度的鍍層是測不出來的。
精度高，是鍍層測厚儀的另一個大特點。精度高的根本是因為探頭采用了非常的數字探頭，測試的數據不容易受到干擾，并且優良的精度、即使溫度變化了也不會影響測量。了重復性。

儀器特點：
? 同時分析元素周期表中由鈦（Ti）以上元素的鍍層厚度；
? 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度；
? 無需復雜的樣品預處理過程；分析測量動態范圍寬，可從0.01M到60M ；
? 采用的探測器技術及的信號處理線路，處理速度快，精度高，穩定可靠；
? 采用正高壓激發的微聚焦的X光管，激發與測試條件采用計算機軟件數碼控制與顯示；
? 采用彩色攝像頭，準確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像；
? 采用電動控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準確方便；
? 采用雙激光對焦系統，準確定位測量位置；
? 度高，穩定性好，故障率低；
? 采用多層屏蔽保護，輻射性可靠；
? WINDOWS XP 中文應用軟件，特的分析方法，完備強大的功能，操作簡單，使用方便, 分析結果存入標準ACCESS數據庫；

X-Y-Z樣品平臺移動裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺移動裝置具有可容納各種形態被測樣品的樣品室。
樣品種類：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。
平臺移動：X-Y-Z移動采用電動方式，實用方便。