分析范圍0~50微米儀器重量90kg元素范圍從硫到鈾分析時間30S分析精度5%

產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域
測量超微小部件和結(jié)構(gòu),如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層;
分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);
全自動測量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標(biāo)準(zhǔn)。

鍍層測厚儀它采用較新技術(shù)，具有精度高、示值穩(wěn)定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特點。其新增加的功能包括：分批組管理數(shù)據(jù)、多種在線測量模式、多種校準(zhǔn)方式等，使儀器更加適合工業(yè)現(xiàn)場的工作需求，給客戶提供了更多的便利。

X射線發(fā)射源及接收檢測頭
X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中絕緣和良好冷卻，高壓等級根據(jù)有所區(qū)別，加上具有的溫度自動保護(hù)與報警功能，提高了X射線管的穩(wěn)定性和使用壽命。模塊化設(shè)計、免維護(hù)設(shè)計方案及規(guī)范的制造了設(shè)備系統(tǒng)高可靠性。
檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成電離室檢測頭，離子室設(shè)計具有大空間，高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統(tǒng)備有風(fēng)冷、油冷恒溫冷卻單元，系統(tǒng)的使用壽命。