儀器重量90kg元素范圍從硫到鈾分析時間30S分析精度5%分析范圍0~50微米

X熒光測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，它也可以進行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒；即可分析出各金屬鍍層的厚度，分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。當(dāng)鍍層樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，探測器探測到這些特征X射線后，將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計算機進行處理；計算機的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠多年的科學(xué)研究，總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實踐經(jīng)驗，結(jié)合的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡便、實用等優(yōu)點。
我公司新研制的X熒光測厚儀，廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。
1. 儀器特點：
? 同時分析元素周期表中由鈦（Ti）以上元素的鍍層厚度；
? 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度；
? 無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.01M到60M ；
? 采用的探測器技術(shù)及的處理線路，處理速度快，精度高，穩(wěn)定可靠；
? 采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管，激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示；
? 采用彩色攝像頭，準(zhǔn)確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像；
? 采用電動控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的，準(zhǔn)確方便；
? 采用雙激光對焦系統(tǒng)，準(zhǔn)確定位測量位置；
? 度高，穩(wěn)定性好，故障率低；
? 采用多層屏蔽保護，安全性可靠；
? WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件，特的分析方法，完備強大的功能，操作簡單，使用方便, 分析結(jié)果存入標(biāo)準(zhǔn)ACCESS數(shù)據(jù)庫；
2、儀器的技術(shù)特性
2.1 X-Y-Z樣品平臺裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。
樣品種類：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。
平臺：X-Y-Z采用電動方式，實用方便。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后，可以把有標(biāo)準(zhǔn)值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)測試片的誤差范圍之內(nèi)，則說明儀器可以正常使用了。

X-Y-Z樣品平臺移動裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺移動裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。
樣品種類：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。
平臺移動：X-Y-Z移動采用電動方式，實用方便。