金屬分析儀是企業理化分析中常用的一種普及型計量器具，由于它使用方便，測試快速，因而廣泛用于現場分析，可以對金屬或非金屬材料中的金屬元素百分含量進行定量檢測試。現已大批應用于冶金、鑄造、機械、化工、環保、質檢等各個行業，

在XRF分析法中，從X光發射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩定的離子。由于電子本能會尋求穩定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內所放射出來的X射線的數量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手提式光譜儀具有實時分析的能力，通過簡單地將儀器對準待測金屬表面，即可在短短幾秒鐘內獲得準確的金屬成分信息。傳統金屬成分分析通常需要將樣品送往實驗室，等待數小時甚至數天才能獲得結果。然而，手提式光譜儀的快速反應時間使得生產現場、制造車間等需要快速反饋的地方可以實時監測金屬成分，及時調整生產過程或產品質量，從而提高生產效率和降低成本。