分析范圍0~50微米儀器重量90kg元素范圍從硫到鈾分析時間30S分析精度5%

X熒光鍍層測厚儀配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統
02 微焦斑X光管
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護
05 Fast-SDD探測器
06 雙激光定位裝置
07 標配可自動切換的準直孔和濾光片

儀器特點：
? 同時分析元素周期表中由鈦（Ti）以上元素的鍍層厚度；
? 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度；
? 無需復雜的樣品預處理過程；分析測量動態范圍寬，可從0.01M到60M ；
? 采用的探測器技術及的信號處理線路，處理速度快，精度高，穩定可靠；
? 采用正高壓激發的微聚焦的X光管，激發與測試條件采用計算機軟件數碼控制與顯示；
? 采用彩色攝像頭，準確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像；
? 采用電動控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準確方便；
? 采用雙激光對焦系統，準確定位測量位置；
? 度高，穩定性好，故障率低；
? 采用多層屏蔽保護，輻射性可靠；
? WINDOWS XP 中文應用軟件，特的分析方法，完備強大的功能，操作簡單，使用方便, 分析結果存入標準ACCESS數據庫；

X-Y-Z樣品平臺移動裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺移動裝置具有可容納各種形態被測樣品的樣品室。
樣品種類：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。
平臺移動：X-Y-Z移動采用電動方式，實用方便。