X熒光光譜天瑞EDX分析儀型號
X熒光光譜天瑞EDX分析儀型號
產品別名 |
EDX光譜儀 |
面向地區 |
全國 |
品牌 |
天瑞 |
EDX是借助于分析試樣發出的元素特征X射線波長和強度實現的, 根據不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡使用,可以對樣品進行微區成分分析。
利用熒光X射線進行定量分析的時候,大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法(經驗系數法)。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品,尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關系,以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線,從而得到濃度值。
另一個方法是理論演算的基礎參數法(FP法)。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提,利用計算的各個熒光X射線強度的理論值,推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。
EDX(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)是一種用于分析物質成分的技術,利用X射線的能譜來確定樣品中的元素成分和含量。其原理如下:
1. 激發X射線:EDX光譜儀通過電子束或粒子束激發樣品,使樣品產生X射線。
2. 能量分散:樣品中的元素會發射出不同能量的X射線,這些X射線經過光柵或晶體透射,按照不同的能量進行分離。
3. 探測與計數:分散后的X射線被探測器接收并轉換為電信號,計算機對這些信號進行處理和計數。
4. 能譜圖譜:通過獲取不同能量的X射線的計數率,繪制出樣品的X射線能譜圖譜,來確定樣品中的元素種類和含量。
總的來說,EDX光譜儀利用X射線的能量特性來分析樣品的元素成分和含量,是一種常用的化學分析方法。

江蘇天瑞儀器股份有限公司
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