探測器SDD元素范圍從Na~U

X熒光光譜儀樣品處理注意事項
樣品制備：確保樣品表面平整、清潔，避免污染和氧化影響分析結(jié)果。
樣品尺寸：樣品尺寸需適合設(shè)備的測量窗口，過小或過大會影響分析精度。
樣品均一性：對于不均勻樣品（如粉末或顆粒），需充分混合或研磨以確保代表性。
避免污染：使用一次性手套和清潔工具，避免樣品受到污染。

X熒光分析儀主要有兩大類型：
波長色散型XRF（WDXRF）：通過衍射晶體將熒光X射線按波長分開，分辨率高，但儀器結(jié)構(gòu)復(fù)雜。
能量色散型XRF（EDXRF）：通過探測器直接測量熒光X射線的能量，結(jié)構(gòu)簡單，適合快速分析。
X射線熒光光譜儀在地質(zhì)、冶金、環(huán)境、考古、材料科學(xué)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。

天瑞儀器 EDX3600H 是一款功能強大、性能的銅合金光譜分析儀，能夠滿足各種銅合金材料的成分分析需求。它具有、高穩(wěn)定性、快速分析、無損檢測等優(yōu)點，是銅合金生產(chǎn)、加工、回收和科研等領(lǐng)域的理想選擇。 如果您需要了解更多關(guān)于 EDX3600H 的信息，可以訪問天瑞儀器網(wǎng)站或聯(lián)系當?shù)亟?jīng)銷商。在選擇光譜分析儀時，需要根據(jù)自身需求和預(yù)算進行綜合考慮。

天瑞儀器X熒光分析儀的主要特點
非破壞性：樣品在分析過程中不會被破壞。
快速：幾秒到幾分鐘即可完成分析。
多元素分析：可同時檢測多種元素。
廣泛應(yīng)用：適用于固體、液體、粉末等多種樣品類型。

設(shè)備操作注意事項
校準：定期使用標準樣品對設(shè)備進行校準，確保分析結(jié)果的準確性。
參數(shù)設(shè)置：根據(jù)樣品類型和分析需求，選擇合適的電壓、電流和測量時間。
環(huán)境條件：保持設(shè)備在恒溫、恒濕的環(huán)境中運行，避免溫度或濕度變化影響分析結(jié)果。
避免過載：不要對高濃度樣品進行長時間測量，以免損壞探測器。

黃銅分析儀EDX3600H材質(zhì)分析X熒光光譜儀的主要技術(shù)參數(shù)：
*元素分析范圍： Na (11) - U (92)
探測器： SDD 探測器
X 光管：微型 X 光管
測量時間：通常為 10-60 秒
樣品尺寸： 直徑 ≤ 50 mm, 高度 ≤ 40 mm
重量：約 50 kg