元素范圍從硫到鈾分析時間30S分析精度5%分析范圍0~50微米儀器重量90kg

設(shè)計亮點(diǎn)
上照式設(shè)計，可適應(yīng)更多異型微小樣品的測試。相較傳統(tǒng)光路，信號采集效率提升以上。可變焦高精攝像頭，搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng)，滿足微小產(chǎn)品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求。可編程自動位移平臺，微小密集型可多點(diǎn)測試，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)。

鍍層測厚儀因?yàn)椴捎玫氖侵鳈C(jī)與探頭分離式的設(shè)計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據(jù)測量材料的厚度來選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，任何不滿意都可以退。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進(jìn)行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后，可以把有標(biāo)準(zhǔn)值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)測試片的誤差范圍之內(nèi)，則說明儀器可以正常使用了。