X熒光分析儀礦石光譜儀
X熒光分析儀礦石光譜儀
產品別名 |
礦石分析儀,元素分析儀,金屬分析儀 |
面向地區 |
全國 |
品牌 |
天瑞 |
光路
準直器面罩:單面罩,(其他尺寸27, 32 or 50mm可選)
主準直器:多可裝3個: 100, 150, 300, 550, 700 or 4000 um, 可選
主濾光片:多4片: Pb,Al,Cu等元素可選
晶體:多10個: LiF420,LiF220,LiF200,Ge111,PE002,InSb, TIAP,以及用于輕元素測量的各種人工多層膜晶體.
探測器:流氣比例計數器 (FPC), 可配0.3um厚的窗膜
閃爍計數器 (SC)
光室真空度:<15Pa
根據用戶的應用要求,儀器可廣泛應用于水泥、鋼鐵、粉末冶金、煤炭、石油、高嶺土、玻璃、耐火材料、環保等行業,是大中型企業質量控制的理想選擇。粉體樣品或塊樣品快速,非破損分析。
采用多路高速MCA并行實時檢測各元素譜峰,不僅便于調試儀器和故障診斷,而且有利于提高儀器穩定性。
手持式礦石元素分析儀的產品介紹:
對于礦產勘探開采行業來說,礦業公司進行決策時很多時候要依賴于已有的礦體模型、經驗與技術。但要充分挖掘礦山價值、制定好的開采決策,僅靠這些是遠遠不夠的。
對礦山價值的充分利用,有一個關鍵前提:即需要即時獲取可靠的化學數據,以快速描繪出礦體邊界。此外,準確的礦山圖繪制及礦石品位控制也需要對礦樣的元素含量作可靠的定量分析。
將礦樣送至遠離現場的實驗室檢測,不但費時費力、成本昂貴,對于偏遠的地方,這樣做也是不切實際的。現在,有了手持式礦石元素分析儀,礦物元素分析工作可以變得簡單。其重量輕、精度高,性能可靠,具有強大的的分析性能。通過實時數據平均或將分析結果下載到PC機上,能提供快速、準確的元素分析結果。
手持式礦石元素分析儀的應用領域:
1、勘查。
多元素現場快速分析,可廣泛應用于普查、詳查的各過程,追蹤礦化異常,擴展勘查范圍。可減少送回實驗室樣品檢測的數量,從而節約運輸和分析成本。
2、巖芯檢測。
快速分析巖芯和其他鉆探樣品,建立礦山三維圖,分析儲量,可提高鉆探現場即時決策效率。
3、開采過程控制。
礦體邊界圈定,礦脈走向判定,對開采過程進行準確管理和控制,對礦石品位進行隨時檢測。
4、品位控制。
對精礦、礦渣、尾礦等礦物品位進行準確快速分析,為礦物貿易、加工以及再利用提供價值判定依據。
5、環境分析。
快速對礦山周圍環境,尾礦,粉塵,土壤污染物等進行分析與檢測,評估礦山環境修復效果。
銅礦石分析儀是一種用于對銅礦石進行成分分析和檢測的儀器設備。
它通常采用多種分析技術,如 X 射線熒光光譜(XRF)、原子吸收光譜(AAS)、電感耦合等離子體發射光譜(ICP-OES)或電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)等,來測定銅礦石中銅元素的含量,以及可能存在的其他伴生元素,如鐵、鋅、鉛、鎳、鈷等的含量和成分。
銅礦石分析儀具有以下優點:
1. 快速準確:能夠在較短時間內提供的分析結果。
2. 非破壞性:在分析過程中通常不會對樣品造成破壞,使得樣品可用于后續的其他分析或研究。
3. 多元素同時分析:可以同時測定多種元素的含量。
其應用領域包括礦山開采、礦石選礦、冶煉加工、地質勘探、礦石貿易等,有助于評估礦石的質量和價值,指導開采和加工工藝的優化。
鐵礦石分析儀是一種用于對鐵礦石進行成分分析和質量檢測的儀器設備。
這類分析儀通常采用多種分析技術,例如 X 射線熒光光譜(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜(ICP-OES)、原子吸收光譜(AAS)等,能夠快速、準確地測定鐵礦石中各種元素的含量,如鐵、硅、鋁、鈣、鎂、磷、硫等。
其優點包括:
1. 分析速度快,能在較短時間內得出結果。
2. 準確性高,可提供可靠的成分數據。
3. 操作相對簡便,經過培訓的人員能夠較容易上手。
在鐵礦石的開采、選礦、貿易等環節,鐵礦石分析儀對于評估礦石的品質和價值、優化生產工藝以及交易的公平公正都具有重要意義。

江蘇天瑞儀器股份有限公司
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